美国Intel公司科学家徐海生博士访问沈阳自动化研究所
近日，美国 Intel公司在瑞典研究型高科技薄膜电子公司资深科学家徐海生博士应邀来所进行访问交流，做了题为“印刷电子及基于有机晶体管及聚合物铁电存储器的全印刷RFID标签”的学术报告。朱云龙主任、胡琨元研究员以及广大研究生一起聆听了本次报告。
徐海生教授长期从事有机功能材料的研究开发及其在电子器件上的应用，研究成果在国际一流学术期刊如《Nature》，《Applied Physics Letter》，《Macromolecules》等发表，并被国际同行广泛引用。
报告中徐海生教授介绍了全印制电子技术的国内外发展概况，并对沈阳自动化研究所开展全印制无芯片RFID标签装备及关键技术的研究进行了充分的交流。会后，朱云龙主任、胡琨元研究员等陪同来访客人参观了工业信息学研究室和沈阳自动化研究所科技成果展室。(工业信息学研究室 库涛)
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